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首页>>武汉颐光科技有限公司>>产品展示>>FTIR系列

  • IRE-200 膜厚测试仪 参考价:900000

    光学薄膜测厚仪,IRE-200是一款超高精度的外延层厚度测量设备,利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析,主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外...
    型号: 厂商性质:生产商所在地:武汉市 对比
    膜厚测量膜厚仪反射膜厚仪SR-C反射膜厚仪光学薄膜测厚仪
    2025/4/27 16:11:292787

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